Kabaran Belanda – Nearfield Instruments kembali menerima pesanan berulang untuk sistem metrologi QUADRA High-Throughput Process Control dari salah satu produsen semikonduktor terkemuka dunia. Pemesanan lanjutan ini menunjukkan semakin kuatnya kepercayaan pasar terhadap teknologi Nearfield serta keberhasilannya dalam mendukung operasi manufaktur berskala besar.
QUADRA menawarkan kontrol proses in-line canggih dengan teknologi metrologi Atomic Force Microscopy (AFM) throughput tinggi, yang mampu melakukan pengukuran 3D non-destruktif dengan akurasi luar biasa terhadap parameter kritis semikonduktor.
Dengan memberikan umpan balik real-time terhadap struktur perangkat semikonduktor, QUADRA memungkinkan korelasi yang baik dengan hasil produksi (yield) serta membantu produsen mempertahankan kinerja optimal di lini manufaktur mereka. Keunggulan throughput tinggi dari QUADRA memungkinkan analisis cepat dan akurat dalam jumlah besar tanpa mengorbankan presisi, sehingga meningkatkan efisiensi dan kualitas produksi.
Kepercayaan Pelanggan Global terhadap QUADRA
Pesanan ulang dari produsen semikonduktor ini semakin menegaskan peran strategis QUADRA dalam mendukung manufaktur volume tinggi untuk teknologi semikonduktor terbaru.
"Pesanan berulang ini adalah validasi nyata atas kinerja QUADRA, baik dari segi kapabilitas, keandalan, maupun dukungan pelanggan yang kami berikan," ujar Hamed Sadeghian, CEO Nearfield Instruments. "Ini mencerminkan kepercayaan pelanggan terhadap kami dalam membantu mereka mencapai target produksi. Dengan pesanan baru ini, buku pesanan kami untuk 2025 kini telah terisi penuh, memperkuat komitmen Nearfield dalam menyediakan solusi inovatif yang membantu manufaktur mencapai efisiensi dan hasil produksi yang lebih tinggi."
Adopsi berkelanjutan dari sistem QUADRA oleh produsen semikonduktor terkemuka semakin memperkuat posisi Nearfield Instruments sebagai pemimpin dalam metrologi kontrol proses canggih untuk produksi massal.
KI
